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Tamaño de muestra robusta para planes de demostración weibull

Piña-Monarrez, Manuel Roman and Ramos-Lopez, Miriam Lorena and Alvarado-Iniesta, Alejandro and Molina-Arredondo, Rey David (2016) Tamaño de muestra robusta para planes de demostración weibull. DYNA, 83 (197). pp. 52-57. ISSN 2346-2183

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Resumen

La eficiencia de un plan de demostración Weibull está completamente determinada por el tiempo total de experimentación (Ta) el cual depende del tamaño de muestra desconocido (n) y del parámetro de forma Weibull (β). De esa forma, una vez que β fue seleccionada, Ta depende sólo de n. Desafortunadamente, debido a que n es estimada a través del método binomial paramétrico, entonces si el nivel de confianza C es mayor de 0.63, n y como consecuencia Ta, son sobre-estimados (para C<0.63, estos son subestimados). Por otro lado, en este artículo, debido a que la intersección entre n y β, para la cual Ta es única, se encontró con n dependiendo sólo de R(t), entonces la estimación de Ta es óptima. Por otro lado, dado que una vez que β fue seleccionada, η está completamente determinada, entonces β y η fueron utilizadas para incorporar los tiempos de falla esperados del nivel operacional en un análisis de prueba de vida acelerada (ALT). Aplicaciones numéricas son dadas., The efficiency of a Weibull demonstration test plan is completely determined by the total experimental time (Ta), which depends on the unknown sample size (n) and on the Weibull shape parameter (β). Thus, once β was selected, Ta depends only on n. Unfortunately, because n was estimated by the parametrical binomial approach, then if the confidence level C was higher than 0.63, n, and as consequence Ta, was overestimated, (For C<0.63, they were underestimated). On the other hand, in this paper, because the intersection between n and β, for which Ta was unique, was found with n depending only on R(t), then the estimation of Ta was optimal. On the other hand, since once β was selected, η was completely determined, then β and η were used to incorporate the expected failure times of the operational level in an accelerated life test analysis (ALT). Numerical applications are given.

Tipo de documento:Artículo - Article
Palabras clave:Weibull demonstration test plan, Success run testing, Lipson equality, Accelerated life testing., Planes de demostración Weibull, Rachas exitosas, Desigualdad de lipson, Pruebas de vida acelerada
Temática:6 Tecnología (ciencias aplicadas) / Technology > 62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering
Unidad administrativa:Revistas electrónicas UN > Dyna
Código ID:58851
Enviado por : Dirección Nacional de Bibliotecas STECNICO
Enviado el día :31 Oct 2017 17:20
Ultima modificación:27 Noviembre 2017 22:04
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