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Growing and characterization of YBaCo2O5 thin films using dc sputtering technique

Galeano Marin, Velkis Neivany (2015) Growing and characterization of YBaCo2O5 thin films using dc sputtering technique. Maestría thesis, Universidad Nacional de Colombia – Sede Medellin.

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Resumen

Abstract: the present thesis deals with the investigation of the perovskite related complex cobaltite YBaCo2O5+δ in thin film form. The YBaCo2O5+δ thin films were grown through dc sputtering technique and were characterized after their physical properties using standard characterization techniques. The motivation for growing thin films is the lacking information concerning the physicochemical behavior of the compound at nano-scale dimensions and the potential applications in gas sensors. The first crucial step to obtain high-quality thin films is the fabrication of high-quality YBaCo2O5+δ targets. In doing so, polycrystalline YBaCo2O5+δ samples were synthesized either by polymeric precursor method or standard solid-state reaction. The polycrystalline samples were carefully characterized according their structural, morphological, electrical, and magnetic properties using standard characterization techniques such as X-ray diffraction (XRD), field emission scanning electron microscopy (FESEM), vibrating sample magnetometry and electric transport measurements. The achieved results allow one to determine which of the routes is more suitable for obtaining the compound with the desired phase and meaningless concentration of foreign phases. This information is then used for fabricating the targets of the compound by pressing the powders and subsequent sinter at high temperatures. YBaCo2O5+δ thin films are then sputtered from these targets on (001)-oriented SrTiO3 substrates. The substrate temperature is varied between 750 and 850 °C in order to optimize this important growing parameter. Similar to the polycrystalline material, the films are characterized after their structural, morphological, electrical and magnetic properties using standard characterization methods mentioned above. Additional optical and dielectric characterization of the thin films is performed using UV-visible complex impedance spectroscopy. The results achieved both on polycrystalline and thin film samples are evaluated allowing one to draw important conclusions about the fascinating behavior the complex system., Resumen: en esta tesis se realiza un estudio de un compuesto tipo perovskita, YBaCo2O5+δ en forma de película delgada que son crecidas utilizando dc sputtering y sus propiedades físicas son caracterizadas utilizando técnicas analíticas de caracterización. La motivación de dicha investigación es los escasos reportes de dicho compuesto en película delgada, teniendo en cuenta el gran potencial de aplicación en sensores de gas. Inicialmente se hace la fabricación del compuesto en fase policristalina para tal proceso se utiliza dos técnicas de síntesis, precursor polimérico y reacción en estado sólido estándar. Posteriormente, las muestras en polvo son caracterizadas de acuerdo a sus propiedades morfológicas, eléctricas y magnéticas a través de difracción de rayos x (DRX), microscopia electrónica de barrido (FESEM), magnetometría de muestra vibrante y medidas de transporte eléctrico. Los resultados obtenidos de tales análisis permiten determinar la técnica más adecuada de síntesis del compuesto, garantizando la fase correcta y la menos cantidad de fases secundarias. Luego se procede a la fabricación del blanco de YBaCo2O5+δ por medio de prensado y un subsecuente tratamiento térmico a altas temperaturas. Las películas de YBaCo2O5+δ son depositadas sobra sustratos orientados de titanato de estroncio, SrTiO3 (001). Con el fin de optimizar el crecimiento se varía la temperatura del sustrato entre 750 y 850°C. De forma similar a lo realizado con las muestras policristalinas, se caracterizan las películas por sus propiedades estructurales, morfológicas, eléctricas y magnéticas con técnicas de caracterización estándar. Adicionalmente, se realiza una caracterización óptica y de impedancia a las películas, a través de espectroscopia de impedancia y UV-visible. Finalmente, se evalúan los resultados obtenidos de las muestras policristalinas y en película delgada lo que permite sacar conclusiones representativas del comportamiento de un sistema tan complejo.

Tipo de documento:Tesis/trabajos de grado - Thesis (Maestría)
Colaborador / Asesor:Moran Campaña, Jesus Oswaldo
Información adicional:Maestría Ciencias - Física
Palabras clave:Cobaltita, Propiedades Magneticas, Espectroscopia de impedancia, películas delgadas
Temática:5 Ciencias naturales y matemáticas / Science > 53 Física / Physics
Unidad administrativa:Sede Medellín > Facultad de Ciencias > Escuela de Física
Código ID:52458
Enviado por : mrs Velkis Galeano
Enviado el día :02 Junio 2016 17:07
Ultima modificación:02 Junio 2016 17:08
Ultima modificación:02 Junio 2016 17:08
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