Escudo de la República de Colombia
Sistema Nacional de Biliotecas - Repositorio Institucional Universidad Nacional de Colombia Biblioteca Digital - Repositorio Institucional UN Sistema Nacional de Bibliotecas UN

The corrosion resistance and microstructure of ubm system-deposited nbxsiynz thin films

Velasco Estrada, Leonardo and Olaya Florez, Jhon Jairo and Rodríguez Baracaldo, Rodolfo (2012) The corrosion resistance and microstructure of ubm system-deposited nbxsiynz thin films. Ingeniería e Investigación; Vol. 32, núm. 3 (2012); 10-13 Ingeniería e Investigación; Vol. 32, núm. 3 (2012); 10-13 2248-8723 0120-5609 .

Texto completo

[img]
Vista previa
PDF
925kB
[img] Sin Definir

URL oficial: http://revistas.unal.edu.co/index.php/ingeinv/arti...

Resumen

NbxSiyNz thin film nanostructure was grown using the unbalanced magnetron sputtering (UBM) technique with varying Si content. Corrosion resistance was evaluated by potentiodynamic polarisation technique in a 3% NaCl solution. Microstructure was analysed by X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM) and laser scanning microscopy. Chemical composition was ascertained by X-ray fluorescence (XRF) technique. The results showed that deposition rates increased with higher Si content. A microstructural change was observed for greater than 5% Si content through the transition from a crystalline to an amorphous structure in the thin films. Corrosion test results demonstrated that the thin films having the highest silicon content had better corrosion resistance., En este trabajo se produjeron recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz sobre acero inoxidable AISI 304 mediante la técnica del UBM (unbalanced magnetrón - sputtering con magnetrón desbalanceado), variando el contenido de Si, y se evaluó su resistencia frente al fenómeno corrosivo por medio de la técnica de polarización potenciodinámica en una solución al 3% de NaCl. La microestructura de los recubrimientos se analizó por medio de XRD (X ray diffraction - difracción de rayos X), SEM (scanning electron microscopy - microscopia electrónica de barrido) y microscopia láser confocal. La composición química se identificó con la técnica XRF (X ray fluorescence - fluorescencia de rayos X). Como resultado las tasas de depósito se incrementaron con la adición de Si, además se observó un cambio en la microestructura para contenidos superiores a 5% de Si, mediante la transición de un recubrimiento cristalino a amorfo. Finalmente, los resultados de corrosión sugieren que los recubrimientos con un alto contenido de silicio tienen un mejor comportamiento frente a la corrosión del sistema.

Tipo de documento:Artículo - Article
Información adicional:Los autores o titulares del derecho de autor de cada artículo confieren a la revista Ingeniería e Investigación de la Universidad Nacional de Colombia una autorización no exclusiva, limitada y gratuita sobre el artículo que una vez evaluado y aprobado se envía para su posterior publicación ajustándose a las siguientes características: 1.    Se remite la versión corregida de acuerdo con las sugerencias de los evaluadores y se aclara que el artículo mencionado se trata de un documento inédito sobre el que se tienen los derechos que se autorizan y se asume total responsabilidad por el contenido de su obra ante la revista Ingeniería e Investigación, la Universidad Nacional de Colombia y ante terceros. 2.    La autorización conferida a la revista estará vigente a partir de la fecha en que se incluye en el volumen y número respectivo de la revista Ingeniería e Investigación en el Sistema Open Journal Systems y en la página principal de la revista (www.revistaingenieria.unal.edu.co), así como en las diferentes bases e índices de datos en que se encuentra indexada la publicación. 3.    Los autores autorizan a la revista Ingeniería e Investigación de la Universidad Nacional de Colombia para publicar el documento en el formato en que sea requerido (impreso, digital, electrónico o cualquier otro conocido o por conocer) y autorizan a la revista Ingeniería e Investigación para incluir la obra en los índices y buscadores que estimen necesarios para promover su difusión. 4.    Los autores aceptan que la autorización se hace a título gratuito, por lo tanto renuncian a recibir emolumento alguno por la publicación, distribución, comunicación pública y cualquier otro uso que se haga en los términos de la presente autorización.
Palabras clave:Mechanical Engineering, Material engineering, Corrosion, diffraction, spectroscopy, fluorescence, microstructure, microscopy, race track, x ray, thin film, sputtering, polarisation, Corrosión, Difracción, Espectroscopia, Fluorescencia, Microestructura, Microscopia, race track, Rayos X, Recubrimientos, Sputtering, Polarización
Unidad administrativa:Revistas electrónicas UN > Ingeniería e Investigación
Código ID:35567
Enviado por : Dirección Nacional de Bibliotecas STECNICO
Enviado el día :01 Julio 2014 22:32
Ultima modificación:18 Agosto 2014 21:10
Ultima modificación:18 Agosto 2014 21:10
Exportar:Clic aquí
Estadísticas:Clic aquí
Compartir:

Solamente administradores del repositorio: página de control del ítem

Vicerrectoría de Investigación: Número uno en investigación
Indexado por:
Indexado por Scholar Google WorldCat DRIVER Registry of Open Access Repositories OpenDOAR Metabiblioteca BDCOL OAIster Red de repositorios latinoamericanos DSpace BASE Open archives La referencia Colombiae Open Access Theses and Dissertations Tesis latinoamericanas CLACSO
Este sitio web se ve mejor en Firefox